El Laboratorio de Microscopía Electrónica de Transmisión (LABMET) cuenta con un Microscopio electrónico de transmisión Philips Tecnai 20 FEG para la caracterización de muestras a alta resolución. El cátodo de emisión de campo (FEG) puede funcionar a una tensión máxima de aceleración de 200 kV. La grabación de imágenes se realiza con una cámara CCD Eagle 4k. Además el microscopio está equipado con:
- Un detector de rayos X: para hacer espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (EDX).
- Un módulo STEM: adecuado para técnicas analíticas tales como contraste Z.
- Un detector de campo oscuro de alto ángulo HAAD: para contraste en número atómico. La selección adecuada de las condiciones de contraste, permite el estudio de materiales con una resolución de 0.2 nm. Determinando la estructura cristalina, la composición química y el contenido y la distribución de los defectos.
Figura 1. Detector de campo oscuro
También se disponen de diferentes softwares de control y evaluación.
Para las investigaciones de crio-TEM se encuentran disponibles dos sistemas de crio-transferencia Gatan (soporte y platina criogénica, modelo 626; platina y soporte de tomografía, modelo 914).
Este instrumento proporciona una combinación única de robustez excepcional, facilidad de uso y rendimiento de alta resolución en microanálisis e imágenes TEM. Esto permite al laboratorio LABMET analizar todo tipo de materiales sólidos mediante microscopía electrónica de transmisión. Consiguiéndose el objetivo final de analizar la estructura cristalina a escala atómica y obtener su posible relación con las propiedades macroscópicas de los materiales.
Miembros participantes del LABTEM [RedLab 64]:
Beatriz Galiana Blanco. Investigador Responsable del Laboratorio
Belén Perea Abarca. Técnico de laboratorio
- Métodos de medida disponibles en el Philips Tecnai 20 FEG
- Equipos para la preparación de muestras
- Campo claro/campo oscuro: Identificación de defectos presentes en el material, dislocaciones, fronteras de grano, etc. así como su distribución a partir de imágenes de campo claro y/o campo oscuro en condiciones de dos haces a baja resolución o directamente a partir de imágenes de alta resolución.
- Diagramas de difracción de electrones (EDP): Estructura cristalina a nivel atómico, directamente a partir de imágenes de alta resolución y simulación mediante transformada de Fourier o diagramas de difracción de electrones.
- STEM-HAADF: Composición química de partículas con un tamaño inferior a los 0.5 nm mediante espectros de fluorescencia de rayos X in situ. Se realizan mapas de composición en modo STEM-HAADF con la misma resolución.
- Campo claro/campo oscuro en modo HAADF: Identificación de precipitados o nuevas fases presentes en los materiales. Caracterización estructural y química, estudio de intercaras, relaciones de orientación precipitado/matriz, etc.
El objetivo final es analizar la estructura cristalina a escala atómica y su posible relación con las propiedades de los materiales.
