- Preparación de muestras.
- Sección transversal de electrodos y MEAs. : embebido-pulido, ion milling (Hitachi High-Tech IM4000), y otras técnicas (corte láser, corte en N2).
- Microscopio FE-SEM (Hitachi SU6600)
Microscopía SEM y análisis de secciones transversales de MEAs
Sección transversal de MEA